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Product Category
硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導體膜層) 。
更新時間：2024-03-19
型號：Filmetrics F3-sX
廠商性質(zhì)：代理商
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